納米離子探針簡(jiǎn)介

　　納米離子探針（NanoSIMS, Nano Secondary Ion Mass Spectrometry）是一款以極高空間分辨率為優(yōu)勢(shì)的高靈敏同位素組成和元素含量微區(qū)分析設(shè)備，得益于其優(yōu)異的空間分辨率和二次離子圖像分析能力，在地球與行星科學(xué)、生物細(xì)胞、材料科學(xué)、環(huán)境與古氣候等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。 

　　納米離子探針通過將一次離子束（primary ion beam）垂直入射轟擊樣品表面激發(fā)二次離子（secondary ion beam），不同質(zhì)荷比的二次離子通過質(zhì)量分析器（magnetic sector mass filter）后被分開，根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度大小可以選擇使用法拉第杯（FC）或電子倍增器（EM）接收，獲得單點(diǎn)離子信號(hào)強(qiáng)度（點(diǎn)分析，EM或FC）或二次離子圖像（圖像分析，EM），從而計(jì)算獲得樣品元素含量或同位素組成。

儀器介紹

CAMECA NanoSIMS 50L納米離子探針關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：

1) 高空間分辨率：銫源和射頻氧源均可實(shí)現(xiàn)低至50納米的極限空間分辨率。

2) 高傳輸效率：質(zhì)量分辨率6000時(shí)二次離子傳輸效率大于55%，質(zhì)量分辨率9000時(shí)二次離子傳輸效率大于25%。

3) 大動(dòng)態(tài)范圍的多接收系統(tǒng)：可使用EM或FC同時(shí)采集七種不同質(zhì)荷比的二次離子，所測(cè)元素最大質(zhì)荷比與最小質(zhì)荷比的比值可達(dá)22，如可同時(shí)測(cè)11B至質(zhì)荷比為242（=11×22）之間的元素。

實(shí)驗(yàn)室成員

楊亞楠，工程師，負(fù)責(zé)納米離子探針的運(yùn)行、技術(shù)方法研發(fā)及其應(yīng)用等工作。

    電話：020-85292137      Email：yangyn@gig.ac.cn      辦公室：同位素樓411室

張彥強(qiáng)，工程師，負(fù)責(zé)樣品制備與清洗等工作。

    電話：020-85290213      Email: zhangyq@gig.ac.cn      辦公室：同位素樓407室

 用戶須知

（1）用戶需認(rèn)真填寫《中科院廣州地化所納米離子探針測(cè)試預(yù)約申請(qǐng)書》各項(xiàng)內(nèi)容后提交實(shí)驗(yàn)室（nanosims@gig.ac.cn）審核。

（2）預(yù)約成功后，實(shí)驗(yàn)室安排進(jìn)行樣品制備并等待上級(jí)測(cè)試。

附件：《中科院廣州地化所納米離子探針分析測(cè)試預(yù)約申請(qǐng)書》

歡迎來訪：

　　廣東省廣州市天河區(qū)科華街511號(hào) 中國科學(xué)院廣州地球化學(xué)研究所 標(biāo)本樓南側(cè)負(fù)一層（下圖紅色五角星位置）

更新時(shí)間：2023年2月